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EMI測(cè)試
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知用近場(chǎng)探頭在輻射干擾源定位測(cè)試的應(yīng)用
發(fā)布:西安普科科技瀏覽次數(shù):如果一個(gè)新產(chǎn)品在電磁干擾(EMI)預(yù)兼容測(cè)試或者標(biāo)準(zhǔn)兼容測(cè)試中失敗,進(jìn)行故障診斷和改進(jìn)是當(dāng)務(wù)之急。西安普科科技PRBTEK在經(jīng)過多方面選擇過程中,了解到知用有一套完整的測(cè)試方案,知用接收機(jī)和知用近場(chǎng)探頭就可以查找干擾源,完成輻射干擾源定位測(cè)試。
一、推薦設(shè)備:
知用接收機(jī)EM5080B+知用近場(chǎng)探頭EM5030 系列
近場(chǎng)探頭產(chǎn)品圖
接收機(jī)產(chǎn)品圖
二、輻射干擾源定位測(cè)試示意圖:
三、知用近場(chǎng)探頭規(guī)格:
EM5030/EM5030LF 系列探頭組包含了 7 個(gè)專門用來測(cè)試磁場(chǎng)(H)探頭,它有效地屏蔽了電場(chǎng)干擾(E),主要用于電磁兼容整改時(shí)定位干擾源的近場(chǎng)探頭。 EM5030 的頻率范圍是 30MHz-3GHz,共4 種探頭形狀; EM5030LF 的頻率范圍是 9kHz-50MHz,共 3 種探頭形狀。EM5030E 系列探頭組包含了 2 個(gè)專門用來測(cè)試電場(chǎng)(E)的探頭,覆蓋頻率范圍為 30MHz 到 3GHz,主要應(yīng)用于查找電場(chǎng)干擾源,除了探頭其他部分均為屏蔽設(shè)計(jì)。
以上內(nèi)容由普科科技prbtek為您分享,近場(chǎng)探頭除了搭配接收機(jī),也可配合頻譜分析儀查找干擾源,如想了解更多近場(chǎng)探頭測(cè)試方案,咨詢普科科技官網(wǎng):www.zj5u.com
2023-04-27相關(guān)儀器
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