rigol普源nfp-3近場探頭產(chǎn)品特性及其使用方法

　　NFP-3 近場探頭用于配合 RIGOL DSA 系列頻譜分析儀進(jìn)行電子產(chǎn)品的 EMI 測試，可用來檢測元器件表面的磁場強(qiáng)度、磁場耦合通道以及電子模塊附近的磁場環(huán)境，從而快速定位干擾源。NFP-3 包含四個型號 NFP-3-P1、NFP-3-P2、NFP-3-P3 和 NFP-3-P4。

　　測量連接NFP-3 與頻譜分析儀的連接方式如下圖所示。

　　與頻譜分析儀連接

　　使用 BNC-SMB 射頻線纜分別連接 NFP-3 的 SMB(陽)頭和 N-BNC 轉(zhuǎn)接器的 BNC(陰)頭，再將 N-BNC 轉(zhuǎn)接器的 N(陽)頭連接至頻譜分析儀的射頻輸入端。

　　與被測設(shè)備連接

　　NFP-3 與被測設(shè)備近距離非接觸式測量。測量時，請注意近場探頭的擺放方向。

　　典型應(yīng)用：

　　EMI 輻射干擾源定位。

　　確定干擾源頻譜分量的頻率及相對強(qiáng)度。

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