差分探頭與普通探頭：寄生電容的差異解析

　　差分探頭(Differential Probe)和普通探頭(Single-Ended Probe)在設(shè)計(jì)和用途上有很大的不同，其中之一就是它們對寄生電容的處理。

　　差分探頭設(shè)計(jì)用來測量兩個點(diǎn)之間的電壓差，例如差分信號或差分對。它們通常具有以下特點(diǎn)，這些特點(diǎn)有助于減小寄生電容：

　　1. 差分輸入：差分探頭測量兩個輸入之間的電壓差，而不是相對于地的電壓。這種設(shè)計(jì)減少了地回路的影響，從而降低了由于地線引起的寄生電容。

　　2. 屏蔽：差分探頭通常具有更好的屏蔽設(shè)計(jì)，以減少外部電磁干擾(EMI)和降低探頭與被測電路之間的寄生電容。

　　3. 低容性負(fù)載：差分探頭設(shè)計(jì)為對被測電路的容性負(fù)載盡可能小，這意味著探頭的輸入電容很低，從而減少了寄生電容的影響。

　　4. 高阻抗：差分探頭通常具有高輸入阻抗，這有助于減少電流流過探頭時產(chǎn)生的電容效應(yīng)。

　　普通探頭(單端探頭)通常測量相對于地的電壓，這可能導(dǎo)致以下問題：

　　地回路：單端探頭需要連接到地，這可能會引入地回路問題，增加寄生電容。

　　電磁干擾：單端探頭可能更容易受到外部電磁干擾的影響，這可能需要更復(fù)雜的屏蔽來減少寄生電容。

　　容性負(fù)載：單端探頭可能對被測電路的容性負(fù)載更大，這會增加寄生電容的影響。

　　總的來說，差分探頭通過其設(shè)計(jì)和用途的特殊性，能夠更有效地減少寄生電容，從而提供更準(zhǔn)確的測量結(jié)果，特別是在高頻和敏感的差分信號測量中。

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